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一种芯片清洗方法及装置

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN201410106301.2
  • IPC分类号:B08B3/02;H01L21/02;H01L21/67
  • 申请日期:
    2014-03-20
  • 申请人:
    中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
著录项信息
专利名称一种芯片清洗方法及装置
申请号CN201410106301.2申请日期2014-03-20
法律状态驳回申报国家中国
公开/公告日2015-09-23公开/公告号CN104923504A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号B08B3/02IPC分类号B;0;8;B;3;/;0;2;;;H;0;1;L;2;1;/;0;2;;;H;0;1;L;2;1;/;6;7查看分类表>
申请人中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司申请人地址
上海市浦东新区张江路18号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中芯国际集成电路制造(上海)有限公司,中芯国际集成电路制造(北京)有限公司当前权利人中芯国际集成电路制造(上海)有限公司,中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
发明人杨志勇;杨勇
代理机构上海光华专利事务所代理人李仪萍
摘要
本发明提供一种芯片清洗方法及装置,所述芯片清洗方法至少包括雾化喷洗步骤,所述雾化喷洗步骤中通过雾化喷洗装置将清洗剂喷射于待清洗的芯片表面;清洗剂包括氮气、氨气、二氧化碳和去离子水的气液混合物;所述气液混合物中混合液的水阻值为50~80KΩ·CM。本发明通过在在清洗剂中加入二氧化碳和氨气,所述二氧化碳和氨气在水中迅速发生反应生成大量的正负离子HCO3-和NH4+,使去离子水的水阻值减小,进而使芯片表面的静电更容易释放出来。

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