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一种用于补偿晶振老化的方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201210411978.8
IPC分类号：H03B5/04;G01R31/00
申请日期：
2012-10-25
申请人：
北京七芯中创科技有限公司

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权利要求

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种用于补偿晶振老化的方法
申请号	CN201210411978.8	申请日期	2012-10-25
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2013-02-06	公开/公告号	CN102916654A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	H03B5/04 ? IPC结构图谱： H 电学 H9 电学 H03 基本电子电路 H03B 使用工作于非开关状态的有源元件电路，直接或经频率变换产生振荡；由这样的电路产生噪声（特别用于电子乐器的发生器入G10H；微波激射器或激光器入H01S；等离子体振荡的产生入H05H） H03B5/00 利用由输出至输入有正反馈的放大器产生振荡（H03B 9/00，H03B 15/00优先） H03B5/02 零部件 H03B5/04 为补偿物理量，例如电源、负荷、温度的变化，对振荡器进行的改进	IPC分类号	H;0;3;B;5;/;0;4;;;G;0;1;R;3;1;/;0;0查看分类表>
申请人	北京七芯中创科技有限公司	申请人地址	北京市朝阳区北辰西路69号峻峰华亭A座202 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京七芯中创科技有限公司	当前权利人	北京七芯中创科技有限公司
发明人	不公告
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明提出了一种可用于补偿晶振老化的方法，该方法利用晶振的老化规律对晶振的老化进行补偿。该方法的典型结构由四部分组成，包括：计时装置、计算单元、存储单元和晶振。其中，计时装置用于记录晶振的使用时间；计算单元根据晶振使用时间和存储单元值进行老化曲线拟合，并生产补偿数据；存储单元用于存储晶振的老化值；晶振为被补偿件。

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