有源超表面强辐照场性能测试装置及系统

发明专利有效专利

申请号：
CN202110315712.2
IPC分类号：G01R29/08
申请日期：
2021-03-24
申请人：
中国人民解放军国防科技大学

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著录项信息

专利名称	有源超表面强辐照场性能测试装置及系统
申请号	CN202110315712.2	申请日期	2021-03-24
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2021-07-02	公开/公告号	CN113063994A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R29/08 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R29/00 不包括在G01R 19/00至G01R 27/00各组中的电量的测量或指示装置 G01R29/08 电磁场特性的测量	IPC分类号	G;0;1;R;2;9;/;0;8查看分类表>
申请人	中国人民解放军国防科技大学	申请人地址	湖南省长沙市开福区德雅路109号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国人民解放军国防科技大学	当前权利人	中国人民解放军国防科技大学
发明人	张继宏;李杨飞;林铭团;徐明;毋召锋;刘培国;刘继斌
代理机构	长沙国科天河知识产权代理有限公司	代理人	周达

摘要

有源超表面强辐照场性能测试装置及系统，包括标准波导、第一、二高抗阻表面以及第一、二波导同轴转换装置，第一波导同轴转换装置的SMA连接器连接衰减器输入端，衰减器的输出端连接矢量网络分析仪输入端，矢量网络分析仪输出端连接功率放大器输入端，功率放大器输出端连接第二波导同轴转换装置的SMA连接器，将待测试的有源超表面样品通过第一法兰盘夹紧，通过第一、二高阻抗表面在标准波导内部形成均匀平面波辐照场；通过功率放大器放大输入信号，在标准波导内部形成高功率的均匀的准TEM辐照场，通过矢量网络分析仪对样品进行性能测试。本发明能够同时提供均匀平面波和高功率辐照场，同时测试操作简单，成本低廉。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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