一种用于柔性薄膜性能测试的原位弯曲装置

发明专利有效专利

申请号：
CN202110222452.4
IPC分类号：G01R31/00
申请日期：
2021-02-24
申请人：
湖北大学

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专利名称	一种用于柔性薄膜性能测试的原位弯曲装置
申请号	CN202110222452.4	申请日期	2021-02-24
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-06-22	公开/公告号	CN113009256A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;0查看分类表>
申请人	湖北大学	申请人地址	湖北省武汉市武昌区友谊大道368号湖北大学材料学院变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	湖北大学	当前权利人	湖北大学
发明人	祁亚军;李一龙;周鹏;章天金
代理机构	武汉兮悦知识产权代理事务所（特殊普通合伙）	代理人	暂无

摘要

一种用于柔性薄膜性能测试的原位弯曲装置，包括上下镂空、左右设有固定方槽的基座，所述固定方槽下方设有凸起的刻度尺，基座和平动滑块设有同样尺寸的矩形槽，所述矩形槽上放置平动滑块和方柱，通过依次插入不同厚度的方柱给试样施加不同的步进位移，在试样移动过程中平动滑块和基座上的矩形槽可以固定试样，实现简支梁弯曲实验，所述方柱的不同厚度对应试样的不同大小的曲率弯曲半径和应变。本发明克服了传统的更换弯曲台而导致测试位置变动和损伤样品电极接触等问题，可以用于各种型号的低温真空探针台，在不同温度、磁场、光照等情况下，对材料或器件进行的电学特性、微波特性、光电特性、超导垂直磁场测量、霍尔测量和磁输运测量等。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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