一种测试装置

发明专利无效专利

申请号：
CN201310103742.2
IPC分类号：G01M11/00
申请日期：
2013-03-27
申请人：
苏州佳世达电通有限公司;佳世达科技股份有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种测试装置
申请号	CN201310103742.2	申请日期	2013-03-27
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2013-07-17	公开/公告号	CN103207061A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01M11/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01M 机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试 G01M11/00 光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件	IPC分类号	G;0;1;M;1;1;/;0;0查看分类表>
申请人	苏州佳世达电通有限公司;佳世达科技股份有限公司	申请人地址	江苏省苏州市高新区珠江路169号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	苏州佳世达电通有限公司,佳世达科技股份有限公司	当前权利人	苏州佳世达电通有限公司,佳世达科技股份有限公司
发明人	谢泳村;林志颖
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明提供了一种测试装置，用于同时测试多个拍摄装置，该测试装置包括，遮光箱的第一内壁上设置有第一测试图样；以及第一半穿半反式光学元件，与该第一测试图样相对设置，具有第一光学临界面、第一主光路、第一反射光路和第一透射光路，经该第一测试图样的光线沿该第一主光路经该第一光学临界面形成沿该第一反射光路的第一反射光线和沿该第一透射光路的第一透射光线；其中，该测试装置具有对应于该第一反射光路的第一测试位置和对应于该第一透射光路的第二测试位置，当第一拍摄装置设置于该第一测试位置、且第二拍摄装置设置于该第二测试位置而测试时，第一反射光线入射至该第一拍摄装置、该第一透射光线至该第二拍摄装置。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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