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光电探测器线性区间及其面响应特性测量装置

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN201310371081.1
  • IPC分类号:G01J1/24
  • 申请日期:
    2013-08-22
  • 申请人:
    中国科学院上海光学精密机械研究所
著录项信息
专利名称光电探测器线性区间及其面响应特性测量装置
申请号CN201310371081.1申请日期2013-08-22
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2013-12-11公开/公告号CN103438993A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01J1/24IPC分类号G;0;1;J;1;/;2;4查看分类表>
申请人中国科学院上海光学精密机械研究所申请人地址
上海市嘉定区800-211邮政信箱 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国科学院上海光学精密机械研究所当前权利人中国科学院上海光学精密机械研究所
发明人陆海丰;杨琳;惠宏超;郭亚晶;姜秀青
代理机构上海新天专利代理有限公司代理人暂无
摘要
一种光电探测器线性区间及其面响应特性测量装置,包括光源、第一光阑、光功率稳定器、光功率衰减器、第二光阑、分光棱镜、第一光开关、第二光开关、第一反射镜、第二反射镜、积分球、待测光电探测器、电信号放大器、数据采集卡、计算机和恒温箱,本发明装置主要采用积分球出射光照度均匀特性,利用激光光源的线宽窄、功率稳定等优点,能够实现不同光电探测器在特定波长下的直线度和面响应均匀性的精确测量,具有方便快捷、动态范围大、抗干扰性强等优点,其重复测量精度优于0.05%。

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