用于光检测阵列复用的系统及其方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202110406962.7
IPC分类号：G01N15/14
申请日期：
2021-04-15
申请人：
贝克顿·迪金森公司

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著录项信息

专利名称	用于光检测阵列复用的系统及其方法
申请号	CN202110406962.7	申请日期	2021-04-15
法律状态	公开	申报国家	中国
公开/公告日	2021-10-22	公开/公告号	CN113533174A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N15/14 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N15/00 测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积（微生物的识别入C12Q）〔1，4，2006.01〕 G01N15/10 测试单个颗粒〔4〕 G01N15/14 电光测试〔4〕	IPC分类号	G;0;1;N;1;5;/;1;4查看分类表>
申请人	贝克顿·迪金森公司	申请人地址	美国新泽西州变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	贝克顿·迪金森公司	当前权利人	贝克顿·迪金森公司
发明人	吴家驹
代理机构	北京柏杉松知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	罗小晨;程强

摘要

本公开的方面包括用于照射流中粒子的系统。根据某些实施例的系统包括：光源和光检测系统，所述光源具有配置成在第一位置处照射流的第一激光器和配置成在第二位置处照射流的第二激光器；所述光检测系统具有配置成从流收集光的单个光收集部件和具有多个光电检测器的单个光电检测器阵列，所述多个光电检测器被配置成检测通过单个光收集部件传输的来自激光器的光。还描述了用于利用本主题系统确定流中粒子的一个或更多个参数的方法。还提供了非暂时性计算机可读存储介质，其具有用于利用本主题系统实施方法的指令。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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