一种交流采样计算的新方法和基于此方法的“真有效值”采样集成电路

发明专利无效专利

申请号：
CN03129413.8
IPC分类号：--
申请日期：
2003-06-19
申请人：
张若愚

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法律信息

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著录项信息

专利名称	一种交流采样计算的新方法和基于此方法的“真有效值”采样集成电路
申请号	CN03129413.8	申请日期	2003-06-19
法律状态	驳回	申报国家	中国
公开/公告日	2005-01-19	公开/公告号	CN1566965
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	暂无	IPC分类号	暂无查看分类表>
申请人	张若愚	申请人地址	上海市徐汇区康健路漕泾一村9号601室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	张若愚	当前权利人	张若愚
发明人	张若愚
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

对交流电量的测量，早期普遍采用直流采样，在交流采样法中，有一种计算所谓“真有效值的”的交流采样法，该方法的实质在于通过把交流周期信号离散成若干点值，再通过离散积分计算其均方根值(RMS)或“真有效值”。计算均方根值，需要耗费大量时间。理论和实际应用证明，本发明方法较之现有方法可提高速度数千倍。本发明是一种交流采样计算的新方法，并且根据这种方法可以制造出一种新型的“真有效值”(RMS)转换器件。该方法是一种借助高级计算机(如PC机)完成采样结果的数值处理，而单片微处理器或微控制器(MCU)只作数值地址的索引查找，或只作量值比较判断的计算方法。

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