一种基于CMOS图像传感器的量子点标记试条定量检测系统

发明专利无效专利

申请号：
CN200810045548.2
IPC分类号：G01N21/64;G01N33/52;G01N33/558
申请日期：
2008-07-14
申请人：
马义才

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著录项信息

专利名称	一种基于CMOS图像传感器的量子点标记试条定量检测系统
申请号	CN200810045548.2	申请日期	2008-07-14
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2009-02-18	公开/公告号	CN101368907
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/64 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/62 所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统〔3〕 G01N21/63 光学激发的〔3〕 G01N21/64 荧光；磷光〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;6;4;;;G;0;1;N;3;3;/;5;2;;;G;0;1;N;3;3;/;5;5;8查看分类表>
申请人	马义才	申请人地址	四川省成都市青羊区金凤路19号燕沙庭院12幢1单元101号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	马义才	当前权利人	马义才
发明人	马义才;顾敏;马灵
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

一种基于CMOS图像传感器的量子点标记试条定量检测系统，包括量子点标记试条、试条架、扫描系统、CMOS图像传感器、数据处理装置、输出显示装置、打印机、键盘和一张与试条配套的IC卡。数据处理装置读取IC卡参数后控制试条架运动使扫描系统对试条检测带和质控带进行自动扫描，并将采集到的信号经CMOS图像传感器传输回数据处理装置，从而对检测带和质控带光密度值进行识别、浓度计算和技术分析，检测结果最后传输给输出显示装置进行显示。本发明能准确实现样品单组分和多组分定量、半定量或定性检测，还能对免疫层析反应过程进行动态监测。系统具有检测灵敏度高、结果客观、使用灵活等优点。

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