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纳米孔和纳米流体器件中尺寸的反馈控制

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201180052447.8
  • IPC分类号:B81C1/00
  • 申请日期:
    2011-08-16
  • 申请人:
    国际商业机器公司
著录项信息
专利名称纳米孔和纳米流体器件中尺寸的反馈控制
申请号CN201180052447.8申请日期2011-08-16
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2013-07-03公开/公告号CN103189305A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号B81C1/00IPC分类号B;8;1;C;1;/;0;0查看分类表>
申请人国际商业机器公司申请人地址
美国纽约 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人国际商业机器公司当前权利人国际商业机器公司
发明人P·S·瓦格纳;S·哈雷尔;S·罗斯纳格尔
代理机构北京市中咨律师事务所代理人于静;张亚非
摘要
通过使用反馈系统,以受控方式闭合或打开诸如纳米沟道和纳米孔的纳米流体通路。在存在电解质的通路内生长或去除氧化物层,直到通路达到选定尺寸或者通路被闭合。在制造期间测量纳米流体通路的尺寸变化。流过通路的离子电流水平可被用来确定通路尺寸。可通过对元件之间的流体通路的选择性氧化而控制流过流体元件的阵列的流体流。

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