一种电子器件耐高压测试用安全保护装置及测试系统

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专利名称	一种电子器件耐高压测试用安全保护装置及测试系统
申请号	CN201320868505.0	申请日期	2013-12-26
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R1/04 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R1/00 包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R 31/00组中的各类仪器或装置的零部件（测量电消耗量的机电装置所特有的结构零部件入G01R 11/02）〔3，8〕 G01R1/02 一般结构零部件 G01R1/04 外壳；支承构件；端子装置	IPC分类号	G;0;1;R;1;/;0;4;;;G;0;1;R;3;1;/;1;2查看分类表>
申请人	重庆梅安森科技股份有限公司	申请人地址	重庆市高新区二郎科技新城创业路105号高科创业园C区6楼变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	重庆梅安森科技股份有限公司	当前权利人	重庆梅安森科技股份有限公司
发明人	刁家久;蒲廷波;伍光红;胡慧平
代理机构	重庆博凯知识产权代理有限公司	代理人	梁展湖;李海华

摘要

本实用新型公开了一种电子器件耐高压测试用安全保护装置及测试系统，所受安全保护装置包括由绝缘且透明材质制成的箱体和箱盖，在箱体的内壁安装有一行程开关和一触发开关；所述测试系统包括该安全保护装置以及高压测试仪。本实用新型能够保证在耐高压测试过程中测试人员的安全，并且操作更方便、快捷。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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