测试系统和测试方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201711169939.0
IPC分类号：G01R29/10
申请日期：
2017-11-22
申请人：
罗德施瓦兹两合股份有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	测试系统和测试方法
申请号	CN201711169939.0	申请日期	2017-11-22
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2018-12-25	公开/公告号	CN109085431A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R29/10 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R29/00 不包括在G01R 19/00至G01R 27/00各组中的电量的测量或指示装置 G01R29/08 电磁场特性的测量 G01R29/10 天线的辐射图〔1，2006.01〕	IPC分类号	G;0;1;R;2;9;/;1;0查看分类表>
申请人	罗德施瓦兹两合股份有限公司	申请人地址	德国慕尼黑变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	罗德施瓦兹两合股份有限公司	当前权利人	罗德施瓦兹两合股份有限公司
发明人	亚历山大·帕布斯特;科比特·罗威尔
代理机构	北京银龙知识产权代理有限公司	代理人	曾贤伟;许静

摘要

一种用于测试包括具有多个天线的天线阵列并且能够控制天线阵列的辐射图案的待测设备的测试系统可以包括：测试天线系统，用于发射输出测试信号到待测设备以及接收来自待测设备的输入测试信号；控制单元，用于控制待测设备设置第一辐射图案以及设置第二辐射图案，第一辐射图案具有指向测试天线系统的理论上的主瓣，第二辐射图案的主瓣包括与第一辐射图案的主瓣之间的大于0°的角；以及测试处理单元，用于基于由天线测试系统从待测设备接收的输入测试信号的信号电平和/或基于由待测设备接收的输出测试信号的信号电平来评价待测设备。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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