一种氢气传感器及钯膜氢敏感系统

发明专利无效专利

申请号：
CN200810247340.9
IPC分类号：G01N21/84;G01N21/00
申请日期：
2008-12-30
申请人：
清华大学

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种氢气传感器及钯膜氢敏感系统
申请号	CN200810247340.9	申请日期	2008-12-30
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2009-06-10	公开/公告号	CN101451959
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/84 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/84 专用于特殊应用的系统〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;8;4;;;G;0;1;N;2;1;/;0;0查看分类表>
申请人	清华大学	申请人地址	北京市海淀区清华园北京-82信箱变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	清华大学	当前权利人	清华大学
发明人	杨振;张敏;廖延彪;田芊;黎启胜;张毅;庄志
代理机构	北京路浩知识产权代理有限公司	代理人	王朋飞

摘要

本发明涉及一种氢气传感器及钯膜氢敏感系统，该氢气传感器包括导入光纤、反射光纤和空心管，空心管的表面具有钯或钯合金膜，导入光纤和反射光纤分别与空心管管腔的两端连接，相对的两个光纤端面相互平行并与管腔一起构成干涉腔体；该钯膜氢敏感系统通过向氢气传感器的导入光纤传输宽谱光，并接收导入光纤和反射光纤相对两端反射产生的干涉光，通过采集干涉光谱信号来确定干涉腔体腔长的变化，进而计算出氢气的浓度。本发明克服了现有技术中由于光源波动和光纤扰动等因素难以实现高分辨率稳定测量的问题，极易受环境温度扰动影响的问题，测量结果准确且温度性强，且成本低廉。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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