基于工控机实现液晶模组测试的一体化装置及方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201510310112.1
IPC分类号：G02F1/13
申请日期：
2015-06-08
申请人：
武汉精测电子技术股份有限公司

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专利名称	基于工控机实现液晶模组测试的一体化装置及方法
申请号	CN201510310112.1	申请日期	2015-06-08
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日	2015-08-19	公开/公告号	CN104849885A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G02F1/13 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G02 光学 G02F 用于控制光的强度、颜色、相位、偏振或方向的器件或装置，例如转换、选通、调制或解调，上述器件或装置的光学操作是通过改变器件或装置的介质的光学性质来修改的；用于上述操作的技术或工艺；变频；非线性光学；光学逻辑元件；光学模拟/数字转换器〔2，4〕 G02F1/00 控制来自独立光源的光的强度、颜色、相位、偏振或方向的器件或装置，例如，转换、选通或调制；非线性光学〔2，4〕 G02F1/01 对强度、相位、偏振或颜色的控制（G02F 1/29、G02F 1/35优先）〔2，7〕 G02F1/13 基于液晶的，例如单位液晶显示单元〔2〕	IPC分类号	G;0;2;F;1;/;1;3查看分类表>
申请人	武汉精测电子技术股份有限公司	申请人地址	湖北省武汉市洪山区南湖大道53号洪山创业中心4楼变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	武汉精测电子集团股份有限公司	当前权利人	武汉精测电子集团股份有限公司
发明人	彭骞;陈胜星;徐梦银;肖家波;胡磊;陈凯;沈亚非;张伟涛
代理机构	武汉开元知识产权代理有限公司	代理人	黄行军;胡红林

摘要

本发明涉及一种基于工控机实现液晶模组测试的一体化装置及方法，该装置包括：电源模块；工控机主板模块，与所述电源模块连接；多路电源模块，与所述电源模块连接；PG模块，与所述多路电源模块连接；所述PG模块包括ARM和FPGA，所述FPGA生成LVDS信号输出；显卡，与所述FPGA连接，用于接收所述LVDS信号；输出接口模块，分别与所述显卡和多路电源模块连接；以及显示模块，与所述ARM连接。本发明能够将日常普通工控机和PG整合在一起，体积的压缩更方便了生产商携带设备，多环境下常温测试，移动测试。此外，将工控机和PG一体化减少了生产独立PG的额外辅材成本。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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