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TiAlN-TiBN多层厚膜的制备方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN200910099424.7
  • IPC分类号:B32B9/00;C23C14/06;C23C14/35;C23C14/32;C23C14/02;C23C14/54
  • 申请日期:
    2009-06-15
  • 申请人:
    中国兵器工业第五二研究所
著录项信息
专利名称TiAlN-TiBN多层厚膜的制备方法
申请号CN200910099424.7申请日期2009-06-15
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2009-12-16公开/公告号CN101602272
优先权暂无优先权号暂无
主分类号B32B9/00IPC分类号B;3;2;B;9;/;0;0;;;C;2;3;C;1;4;/;0;6;;;C;2;3;C;1;4;/;3;5;;;C;2;3;C;1;4;/;3;2;;;C;2;3;C;1;4;/;0;2;;;C;2;3;C;1;4;/;5;4查看分类表>
申请人中国兵器工业第五二研究所申请人地址
浙江省宁波市科技园区凌云路199号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国兵器工业第五二研究所当前权利人中国兵器工业第五二研究所
发明人刘智勇;杨润田;刘若涛
代理机构宁波诚源专利事务所有限公司代理人袁忠卫;景丰强
摘要
一种TiAlN-TiBN多层厚膜,其特征在于该多层厚膜由磁控溅射的TiAlN层和电弧离子镀的TiBN层交替沉积而成,并且,前述的TiBN层厚度为0.1μm~0.3μm,前述的TiAlN层厚度为2.1μm~4.3μm。本发明还公开该多层厚膜的制备方法。与现有技术相比,本发明的优点在于:TiAlN层与TiBN层交替分布实现了TiAlN薄膜成分多元化和结构多层化,改善其应力分布,所得产品致密均匀、显微硬度大,提高结合强度,大幅度增加厚度,满足软基体或不能热处理产品的表面强化需求。

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