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二维图形圆度测量装置

实用新型专利无效专利
  • 申请号:
    CN200920147797.2
  • IPC分类号:G01B11/24
  • 申请日期:
    2009-04-14
  • 申请人:
    中国计量科学研究院
著录项信息
专利名称二维图形圆度测量装置
申请号CN200920147797.2申请日期2009-04-14
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01B11/24IPC分类号G;0;1;B;1;1;/;2;4查看分类表>
申请人中国计量科学研究院申请人地址
北京市北三环东路18号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国计量科学研究院当前权利人中国计量科学研究院
发明人王为农;位恒政;任国营;裴丽梅;苏永昌;郑庆国;王自军
代理机构北京振安创业专利代理有限责任公司代理人祁纯阳
摘要
本实用新型公开了一种测量精度高的二维图形圆度装置。包括底座(1),底座(1)上设有可调节位置和倾斜功能的旋转台(2)和调节支撑(3),特别是旋转台(2)上设有载物台(4),调节支撑(3)上设有可调节位置并位于载物台(4)下方的下照明光源(5),显微成像装置(7)和图象传感器(8)设于载物台(4)上方,图象传感器(8)接数据处理装置(9)。本实用新型结构简单,旋转台的可调节和显微成像装置的可调节,使操作人员的操作相当方便,测量工作快捷,效率高且测量的精度高。

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