二维图形圆度测量装置

实用新型专利无效专利

申请号：
CN200920147797.2
IPC分类号：G01B11/24
申请日期：
2009-04-14
申请人：
中国计量科学研究院

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	二维图形圆度测量装置
申请号	CN200920147797.2	申请日期	2009-04-14
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/24 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/24 用于计量轮廓或曲率	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;2;4查看分类表>
申请人	中国计量科学研究院	申请人地址	北京市北三环东路18号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国计量科学研究院	当前权利人	中国计量科学研究院
发明人	王为农;位恒政;任国营;裴丽梅;苏永昌;郑庆国;王自军
代理机构	北京振安创业专利代理有限责任公司	代理人	祁纯阳

摘要

本实用新型公开了一种测量精度高的二维图形圆度装置。包括底座(1)，底座(1)上设有可调节位置和倾斜功能的旋转台(2)和调节支撑(3)，特别是旋转台(2)上设有载物台(4)，调节支撑(3)上设有可调节位置并位于载物台(4)下方的下照明光源(5)，显微成像装置(7)和图象传感器(8)设于载物台(4)上方，图象传感器(8)接数据处理装置(9)。本实用新型结构简单，旋转台的可调节和显微成像装置的可调节，使操作人员的操作相当方便，测量工作快捷，效率高且测量的精度高。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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