基于干涉条纹图处理测量透明介质折射率分布的方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201510034035.1
IPC分类号：G01N21/45
申请日期：
2015-01-23
申请人：
四川大学

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法律信息

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著录项信息

专利名称	基于干涉条纹图处理测量透明介质折射率分布的方法
申请号	CN201510034035.1	申请日期	2015-01-23
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2015-05-06	公开/公告号	CN104596989A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/45 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/17 入射光根据所测试的材料性质而改变的系统（其中所测试的材料因受到光学激发而引起入射光波长改变的入G01N 21/63）〔3〕 G01N21/41 折射率；影响相位的性质，例如光程长度（G01N 21/21优先）〔3〕 G01N21/45 利用干涉量度法，利用纹影方法〔3〕	IPC分类号	G01N21/45查看分类表>
申请人	四川大学	申请人地址	四川省成都市一环路南一段*** 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	四川大学	当前权利人	四川大学
发明人	冯国英;兰斌;张涛;周寿桓
代理机构	成都科海专利事务有限责任公司	代理人	刘双兰

摘要

本发明涉及一种基于干涉条纹图的处理来测量透明介质折射率分布的方法，属于物质折射率测量技术领域。该方法是利用立体分光棱镜分光面干涉产生干涉条纹图，再通过计算改变输入光透过待测样品与参考介质的光程差所产生的干涉条纹移动数来进行待测透明介质折射率分布的测量；以及提供实现测量方法的测量装置。本发明测量方法不仅可对均匀透明介质折射率进行更高精度测量；而且还能对非均匀透明介质折射率分布进行测量。本发明的测量方法及其测量装置在保证测量精度和稳定性的前提下，还具有减少测量次数，缩短测量时间，以及简化数据处理的优点。

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