一种微间距连接器测试装置

1.一种微间距连接器测试装置，其特征在于：包括有背部盖板、模芯座、浮动板以及多个扁平探针；该模芯座设置于背部盖板上并与背部盖板围构形成一容置槽，模芯座的表面开设有多个连通容置槽的通槽；该浮动板可上下浮动地设置于模芯座的上方，浮动板上开设有插槽，该插槽正对多个通槽；该多个扁平探针设置于容置槽中，相邻两扁平探针之间夹设有绝缘板，每一扁平探针的顶部均具有针尖，该针尖穿过对应的通槽伸入插槽中。
2.如权利要求1所述的一种微间距连接器测试装置，其特征在于：所述模芯座与背部盖板之间通过销钉和第一螺丝连接固定。
3.如权利要求2所述的一种微间距连接器测试装置，其特征在于：所述浮动板与模芯座之间通过弹簧、销钉和第二螺丝安装连接。
4.如权利要求1所述的一种微间距连接器测试装置，其特征在于：所述浮动板上设置有磁铁，该磁铁位于插槽的侧旁。
5.如权利要求1所述的一种微间距连接器测试装置，其特征在于：所述绝缘板的侧面凹设有嵌槽，该扁平探针嵌于嵌槽中。
6.如权利要求5所述的一种微间距连接器测试装置，其特征在于：所述绝缘板的两侧面均凹设有嵌槽，相邻两扁平探针嵌于对应的嵌槽中。
7.如权利要求5所述的一种微间距连接器测试装置，其特征在于：所述扁平探针包括有依次一体成型连接的第一接触部、弹性部和第二接触部，弹性部嵌于嵌槽中，该针尖位于第一接触部上。
8.如权利要求7所述的一种微间距连接器测试装置，其特征在于：所述弹性部为迂回延伸结构。

一种微间距连接器测试装置\n技术领域\n[0001] 本实用新型涉及测试装置领域技术，尤其是指一种微间距连接器测试装置。\n背景技术\n[0002] 目前在面板、集成电路、半导体、电池、新能源等行业检测过程中，需要对产品连接器部分进行压接，从而信号导通；产品连接器触点间距较较小时，扁平探针无法固定安装，所以无法利用扁平探针压接导通测试。因此，有必要研究一种方案以解决上述问题。\n实用新型内容\n[0003] 有鉴于此，本实用新型针对现有技术存在之缺失，其主要目的是提供一种微间距连接器测试装置，其可对扁平探针进行固定安装，很好地利用扁平探针进行压接导通测试。\n[0004] 为实现上述目的，本实用新型采用如下之技术方案：\n[0005] 一种微间距连接器测试装置，包括有背部盖板、模芯座、浮动板以及多个扁平探针；该模芯座设置于背部盖板上并与背部盖板围构形成一容置槽，模芯座的表面开设有多个连通容置槽的通槽；该浮动板可上下浮动地设置于模芯座的上方，浮动板上开设有插槽，该插槽正对多个通槽；该多个扁平探针设置于容置槽中，相邻两扁平探针之间夹设有绝缘板，每一扁平探针的顶部均具有针尖，该针尖穿过对应的通槽伸入插槽中。\n[0006] 优选的，所述模芯座与背部盖板之间通过销钉和第一螺丝连接固定。\n[0007] 优选的，所述浮动板与模芯座之间通过弹簧、销钉和第二螺丝安装连接。\n[0008] 优选的，所述浮动板上设置有磁铁，该磁铁位于插槽的侧旁。\n[0009] 优选的，所述绝缘板的侧面凹设有嵌槽，该扁平探针嵌于嵌槽中。\n[0010] 优选的，所述绝缘板的两侧面均凹设有嵌槽，相邻两扁平探针嵌于对应的嵌槽中。\n[0011] 优选的，所述扁平探针包括有依次一体成型连接的第一接触部、弹性部和第二接触部，弹性部嵌于嵌槽中，该针尖位于第一接触部上。\n[0012] 优选的，所述弹性部为迂回延伸结构。\n[0013] 本实用新型与现有技术相比具有明显的优点和有益效果，具体而言，由上述技术方案可知：\n[0014] 通过在模芯座与背部盖板围构形成一容置槽，并配合多个扁平探针设置于容置槽中，相邻两扁平探针之间夹设有绝缘板，扁平探针不易掉落且尺寸较小，兼容性较好的，用于连接器较小时可使用扁平探针固定结构的解决方案。\n[0015] 为更清楚地阐述本实用新型的结构特征和功效，下面结合附图与具体实施例来对本实用新型进行详细说明：\n附图说明\n[0016] 图1是本实用新型之较佳实施例的分解图；\n[0017] 图2是本实用新型之较佳实施例中模芯座的放大示意图；\n[0018] 图3是本实用新型之较佳实施例中扁平探针的组装示意图；\n[0019] 图4是图3的分解图；\n[0020] 图5是本实用新型之较佳实施例中扁平探针的另一组装示意图；\n[0021] 图6是图5的分解图；\n[0022] 图7是本实用新型之较佳实施例中扁平探针与连接器对接的示意图；\n[0023] 图8是本实用新型之较佳实施例中连接器主视图。\n[0024] 附图标识说明：\n[0025] 10、背部盖板                    20、模芯座\n[0026] 21、通槽                        30、浮动板\n[0027] 31、插槽                        32、磁铁\n[0028] 40、扁平探针                    41、第一接触部\n[0029] 42、弹性部                      43、第二接触部\n[0030] 401、针尖                       51、销钉\n[0031] 52、第一螺丝                    53、弹簧\n[0032] 54、第二螺丝                    60、连接器\n[0033] 70、绝缘板                      71、嵌槽\n具体实施方式\n[0034] 请参照图1至图8所示，其显示出了本实用新型之较佳实施例的具体结构，包括有背部盖板10、模芯座20、浮动板30以及多个扁平探针40。\n[0035] 该模芯座20设置于背部盖板10上并与背部盖板10围构形成一容置槽(图中未示)，模芯座20的表面开设有多个连通容置槽的通槽21；在本实施例中，所述模芯座20与背部盖板10之间通过销钉51和第一螺丝52连接固定。\n[0036] 该浮动板30可上下浮动地设置于模芯座20的上方，浮动板30上开设有插槽31，该插槽31正对多个通槽21，插槽31供连接器60插入，在本实施例中，所述浮动板30与模芯座20之间通过弹簧53、销钉51和第二螺丝54安装连接。所述浮动板30上设置有磁铁32，该磁铁32位于插槽31的侧旁，其用于吸住连接器60。\n[0037] 该多个扁平探针40设置于容置槽中，相邻两扁平探针40之间夹设有绝缘板70，每一扁平探针40的顶部均具有针尖401，该针尖401穿过对应的通槽21伸入插槽31中。在本实施例中，所述绝缘板70的侧面凹设有嵌槽71，该扁平探针40嵌于嵌槽71中，如图3和图4所述，所述绝缘板70的两侧面均凹设有嵌槽71，相邻两扁平探针40嵌于对应的嵌槽71中，当然，亦可如图5和图6所示，仅在绝缘板70的一侧面凹设嵌槽71，不以为限。所述扁平探针40包括有依次一体成型连接的第一接触部41、弹性部42和第二接触部43，弹性部42嵌于嵌槽\n71中，该针尖401位于第一接触部41上。所述弹性部42为迂回延伸结构。\n[0038] 详述本实施例的使用方法如下：\n[0039] 使用时，将本测试装置固定在电路板上并使扁平探针40与电路板导通连接，接着，将待测试的连接器60插入插槽31中，利用磁铁32将连接器60固定，接着，下压浮动板30，使得连接器60的端子与扁平探针40的针尖401接触形成导通，本实用新型结构具有体积小、兼容性强、可安装防呆、可防止扁平探针掉落、可灵活调整两排胶芯间距、可调整PIN针数量、可精确定位的优点，适用于大多数精密压接的场合。\n[0040] 本实用新型的设计重点是：通过在模芯座与背部盖板围构形成一容置槽，并配合多个扁平探针设置于容置槽中，相邻两扁平探针之间夹设有绝缘板，扁平探针不易掉落且尺寸较小，兼容性较好的，用于连接器较小时可使用扁平探针固定结构的解决方案。\n[0041] 以上结合具体实施例描述了本实用新型的技术原理。这些描述只是为了解释本实用新型的原理，而不能以任何方式解释为对本实用新型保护范围的限制。基于此处的解释，本领域的技术人员不需要付出创造性的劳动即可联想到本实用新型的其它具体实施方式，这些方式都将落入本实用新型的保护范围之内。

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