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利用具有联合线圈结构的天线随钻测量方向电阻率的设备和方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN201210321699.2
  • IPC分类号:E21B49/00;E21B47/00
  • 申请日期:
    2012-08-31
  • 申请人:
    刘策;王忠;吴素明
著录项信息
专利名称利用具有联合线圈结构的天线随钻测量方向电阻率的设备和方法
申请号CN201210321699.2申请日期2012-08-31
法律状态撤回申报国家中国
公开/公告日2013-12-25公开/公告号CN103470249A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号E21B49/00IPC分类号E;2;1;B;4;9;/;0;0;;;E;2;1;B;4;7;/;0;0查看分类表>
申请人刘策;王忠;吴素明申请人地址
美国舒格兰市杰西皮尔特勒大道12810号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人刘策,王忠,吴素明当前权利人刘策,王忠,吴素明
发明人刘策;王忠;吴素明
代理机构北京中原华和知识产权代理有限责任公司代理人寿宁;张华辉
摘要
一种用于进行地层方向电阻率测量的设备包括:具有纵轴和外表面的电阻率仪;部署在外表面下方的第一天线,它具有用来处理轴向电磁波的轴向模式线圈和用来处理横向电磁波的横向模式线圈,形成联合线圈结构;部署在外表面下方的第二天线,它与第一天线在轴向上间隔;以及至少两组分布在外表面上的狭槽。一种相应的用于进行方向电阻率测量的方法包括:在钻孔中旋转电阻率仪;利用电阻率仪中的发射-接收天线组来处理轴向和横向电磁波的叠加;以及根据在接收天线上接收到的轴向和横向电磁波的叠加计算电阻率相关测量值。

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