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一种天线/射频一体化辐射计的天线端口驻波比测量方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202110376423.3
  • IPC分类号:G01R27/06
  • 申请日期:
    2021-04-06
  • 申请人:
    北京航空航天大学
著录项信息
专利名称一种天线/射频一体化辐射计的天线端口驻波比测量方法
申请号CN202110376423.3申请日期2021-04-06
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2021-07-09公开/公告号CN113092869A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01R27/06IPC分类号G;0;1;R;2;7;/;0;6查看分类表>
申请人北京航空航天大学申请人地址
北京市海淀区学院路37号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人北京航空航天大学当前权利人北京航空航天大学
发明人苗俊刚;陈曦;董晨
代理机构北京科迪生专利代理有限责任公司代理人安丽;邓治平
摘要
本发明公开了一种天线/射频一体化辐射计的天线端口驻波比测量方法,本测量方法为,在天线端口正辐射方向适当位置垂直放置一平面金属板,调整此金属板与天线端口的距离,观察并记录调整过程中辐射计接收功率值的变化。依据辐射计逆向辐射在天线端口和金属板之间多次反射的物理规律,可以建立起辐射计接收功率变化与天线端口反射系数的关系式,从而计算得到天线端口的驻波比。测量前,需对辐射计接收的由金属板反射的逆向辐射功率值进行仿真或计算,以获得金属板反射功率进入天线端口的比例值;另外,还需对辐射计进行定标,以便消除零功率输入时辐射计的输出电压偏置。本发明的方法利用了微波毫米波辐射计自身的特点,所需硬件和计算方法简单,实操性强,为天线/射频一体化结构微波毫米波辐射计的天线端口驻波比测量提供了有效手段。

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供