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一种ICT测试平台自动开关盖装置

实用新型专利无效专利
  • 申请号:
    CN201721030187.5
  • IPC分类号:G01R31/28;G01R1/02
  • 申请日期:
    2017-08-17
  • 申请人:
    伟创力电子技术(苏州)有限公司
著录项信息
专利名称一种ICT测试平台自动开关盖装置
申请号CN201721030187.5申请日期2017-08-17
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01R31/28IPC分类号G;0;1;R;3;1;/;2;8;;;G;0;1;R;1;/;0;2查看分类表>
申请人伟创力电子技术(苏州)有限公司申请人地址
江苏省苏州市苏州工业园区苏虹中路268号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人伟创力电子技术(苏州)有限公司当前权利人伟创力电子技术(苏州)有限公司
发明人张建;徐永建
代理机构苏州广正知识产权代理有限公司代理人张利强
摘要
本实用新型公开了一种ICT测试平台自动开关盖装置,包括测试机台、测试治具以及自动开关盖装置,测试治具固定于测试机台上部且在其上设有治具上盖,自动开关盖装置置于测试机台后侧,自动开关盖装置包括上部拉提机构、支撑杆、底部支撑管、固定板以及导轮,固定板固定于底部支撑管上,导轮支撑于固定板的前后板体下部且置于底部支撑管的两侧并能在地面上自由滚动,支撑杆的下端垂直的支撑固定于固定板上部板体中间位置,其上端与上部提拉机构连接固定,所述上部提拉机构与治具上盖的位置相对应。所述ICT测试平台自动开关盖装置整体结构简单,安装制作以及操作方便,自动化程度高,有效提高测试效率,节约人力和降低人工强度,实用性高。

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