一种芯片测试的方法和系统

发明专利有效专利

申请号：
CN201010195431.X
IPC分类号：G01R31/28
申请日期：
2010-05-31
申请人：
无锡中星微电子有限公司

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种芯片测试的方法和系统
申请号	CN201010195431.X	申请日期	2010-05-31
法律状态	暂无	申报国家	暂无
公开/公告日	2011-11-30	公开/公告号	CN102262208A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;8查看分类表>
申请人	无锡中星微电子有限公司	申请人地址	江苏省无锡市新区长江路21-1号国家集成电路设计园(创源大厦)610 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	无锡中感微电子股份有限公司	当前权利人	无锡中感微电子股份有限公司
发明人	胡伟锋
代理机构	北京银龙知识产权代理有限公司	代理人	郭海彬

摘要

本发明提供一种芯片测试的方法和系统，方法包括：按行读入自动测试设备的存储器中的测试向量源文件；将所述测试向量源文件的所有行都记录到新文件，其中对于连续重复的至少两个测试向量数据行，仅将所述至少两个测试向量数据行中的第一行和重复的次数记录到所述新文件；在芯片测试过程中，载入所述新文件，依据所述重复的次数重复执行所述第一行。本发明能够减少测试向量源文件的体积，节省内存提高ATE的测试速度，解决现有技术测试向量源文件耗费了大量的时间和内存资源，测试效率低下的技术问题。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供