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测量装置及其用途和减少测量装置的电磁辐射的方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201710053804.1
IPC分类号：G01F23/284
申请日期：
2017-01-24
申请人：
VEGA格里沙贝两合公司

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法律信息

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著录项信息

专利名称	测量装置及其用途和减少测量装置的电磁辐射的方法
申请号	CN201710053804.1	申请日期	2017-01-24
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2017-08-29	公开/公告号	CN107101695A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01F23/284 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01F 容积、流量、质量流量或液位的测量；按容积进行测量〔2，5〕 G01F23/00 液体液面或流动的固态材料料面的指示或测量，例如，用容积指示，应用报警装置的指示 G01F23/22 通过测量除线性尺寸、压力或重量以外的其他与被测液面有关的物理变量，例如，通过测量蒸汽或水传热的差异（含浮标的应用入G01F 23/30） G01F23/28 通过测量直接施加到液体或流动的固态材料上的电磁波或声波参数的变化〔6〕 G01F23/284 电磁波〔6〕	IPC分类号	G;0;1;F;2;3;/;2;8;4查看分类表>
申请人	VEGA格里沙贝两合公司	申请人地址	德国沃尔法赫变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	VEGA格里沙贝两合公司	当前权利人	VEGA格里沙贝两合公司
发明人	于尔根·斯科艾萨;克莱门斯·亨斯特勒
代理机构	北京信慧永光知识产权代理有限责任公司	代理人	曹正建;陈桂香

摘要

本发明涉及一种利用基于传播时间原理来测量容器内的物位的雷达物位计的测量装置，测量装置包括用于减少由容器壁的表面反射的电磁辐射。本发明还涉及一种优化匹配装置并减少诸如由容器壁反射的辐射等杂散辐射的方法。这里，利用显示装置来指示杂散辐射是否被充分地减少。

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