一种MicroLED颜色均匀性检测系统

发明专利有效专利

申请号：
CN202110182271.3
IPC分类号：G01M11/02;G01J1/42
申请日期：
2021-02-10
申请人：
武汉精测电子集团股份有限公司;武汉精立电子技术有限公司

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著录项信息

专利名称	一种MicroLED颜色均匀性检测系统
申请号	CN202110182271.3	申请日期	2021-02-10
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-05-14	公开/公告号	CN112798234A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01M11/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01M 机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试 G01M11/00 光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件 G01M11/02 光学性质的测试	IPC分类号	G;0;1;M;1;1;/;0;2;;;G;0;1;J;1;/;4;2查看分类表>
申请人	武汉精测电子集团股份有限公司;武汉精立电子技术有限公司	申请人地址	湖北省武汉市东湖新技术开发区流芳园南路22号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	武汉精测电子集团股份有限公司,武汉精立电子技术有限公司	当前权利人	武汉精测电子集团股份有限公司,武汉精立电子技术有限公司
发明人	李念念;洪志坤;王锦;郑增强;欧昌东;夏珉
代理机构	武汉东喻专利代理事务所（普通合伙）	代理人	王聪聪

摘要

本发明公开了一种Micro LED颜色均匀性检测系统，包括沿待检测的Micro LED光源的光路方向顺次设置的微透镜阵列、超表面微透镜阵列和探测器件；微透镜阵列靠近Micro LED光源的一侧设置有多个周期性间隔排列且与Micro LED光源中的发光单元一一对应的微透镜，每个微透镜将Micro LED光源中的一个发光单元输出的发散光调制为平行光；超表面微透镜阵列远离微透镜阵列的一侧设置有多个周期性间隔排列且与微透镜阵列中的微透镜一一对应的超表面结构，用于将各微透镜输出的平行光分开投射在探测器件的探测面阵上的不同区域；本发明将不同芯片单元的光充分地分离并聚焦在光电探测器的不同位置，从而可以单独检测到每个Micro LED芯片单元的波长特性，具有分辨率高的优点，提高了检测精度。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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该专利没有被任何外部专利所引用！

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