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暗视场光学位移检测系统

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN200710088276.X
  • IPC分类号:G06F3/033;G06F3/038
  • 申请日期:
    2007-03-22
  • 申请人:
    罗技欧洲公司
著录项信息
专利名称暗视场光学位移检测系统
申请号CN200710088276.X申请日期2007-03-22
法律状态授权申报国家暂无
公开/公告日2007-10-31公开/公告号CN101063912
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G06F3/033IPC分类号G;0;6;F;3;/;0;3;3;;;G;0;6;F;3;/;0;3;8查看分类表>
申请人罗技欧洲公司申请人地址
瑞士莫尔日河畔罗曼尼尔 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人罗技欧洲公司当前权利人罗技欧洲公司
发明人奥利维尔·塞塔兹;尼古拉斯·萨塞利;鲍里斯·卡拉马塔;尼古拉斯·肖万;奥利维尔·马西斯
代理机构北京律盟知识产权代理有限责任公司代理人王允方;刘国伟
摘要
本发明的各实施例使光学装置能够在上面放置有透明及/或半透明及/或光学上光滑的表面的漫射表面上进行示踪。某些实施例旨在检测光学装置何时被抬离其所位于的表面。本发明的各实施例还包括一种能够在材料层的表面上进行示踪的光学输入装置的暗视场光学位移检测系统,所述材料层使至少某些光穿过所述层,所述表面上具有某些形体,所述系统包括:光源,其用于以照明光束对所述表面进行照明,所述照明光束具有光轴;透镜,其定位于孔径中以从所述表面上的所述某些形体接收至少某些衍射光、但不接收从所述表面镜反射的零级光;及检测器,其光学地耦合至接收所述至少某些衍射光的所述透镜,其中所述检测器具有第二光轴。

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