太赫兹源波长测量仪校准装置及方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201811577098.1
IPC分类号：G01J9/04
申请日期：
2018-12-24
申请人：
西安应用光学研究所

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专利名称	太赫兹源波长测量仪校准装置及方法
申请号	CN201811577098.1	申请日期	2018-12-24
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2019-03-22	公开/公告号	CN109506789A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J9/04 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J9/00 测量光学相位差；测定相干性的程度；测量光学波长（光谱测定法入G01J 3/00）〔3〕 G01J9/04 通过差拍同一光源但频率不同的两个波而测量所获得的较低频率的相位偏移〔3〕	IPC分类号	G;0;1;J;9;/;0;4查看分类表>
申请人	西安应用光学研究所	申请人地址	陕西省西安市雁塔区电子三路西段九号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	西安应用光学研究所	当前权利人	西安应用光学研究所
发明人	解琪;李宏光;汪建刚;董再天;陈娟;赵俊成;王乐;刘瑞星
代理机构	西北工业大学专利中心	代理人	陈星

摘要

本发明出太赫兹源波长测量仪校准装置及方法，针对傅立叶变换型太赫兹源波长测量仪和除傅立叶变换型太赫兹源波长测量仪之外的其它类型的波长测量仪，采用相应的校准装置及方法进行校准，实现不同测量原理太赫兹源波长测量仪的校准。对应除傅立叶变换型太赫兹源波长测量仪之外其它类型的太赫兹源波长测量仪，采用太赫兹标准频率源法对其进行校准；对应傅立叶变换型类型的太赫兹源波长测量仪，采用太赫兹特征波长标准器法对其进行校准；该校准方法解决了(0.1～5)THz波段范围内太赫兹源波长测量仪的校准难题，具有广阔的应用前景。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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