微轮廓测量仪

实用新型专利无效专利

申请号：
CN01265708.5
IPC分类号：--
申请日期：
2001-09-30
申请人：
西安交通大学

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	微轮廓测量仪
申请号	CN01265708.5	申请日期	2001-09-30
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	暂无	IPC分类号	暂无查看分类表>
申请人	西安交通大学	申请人地址	陕西省西安市咸宁路28号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	西安交通大学	当前权利人	西安交通大学
发明人	蒋庄德;赵玉龙;宋康;吴祖堂
代理机构	西安通大专利代理有限责任公司	代理人	徐文权

摘要

本实用新型公开了一种微轮廓测量仪,它包括系统工作台和立柱,它还包括设置在系统工作台上的宏动工作平台,立柱上设置有步进电机和激光感测头,宏动工作平台与精密工作台相连。本实用新型不仅可测量工件的表面粗糙度,平面度,直线度,还可测量表面微沟槽的深度,以及微台阶高度值等,且人机对话界面丰富直观,数据,图形图像处理快捷,方便,采用非接触式光学三角量测原理,适用于不透明或半透明材质,而与表面质量无关。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供