低磁芯损耗内置磁体电机设计

发明专利有效专利

申请号：
CN201680063697.4
IPC分类号：G01R31/34;G01R31/28;G01R23/16
申请日期：
2016-10-27
申请人：
法拉第未来公司

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著录项信息

专利名称	低磁芯损耗内置磁体电机设计
申请号	CN201680063697.4	申请日期	2016-10-27
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2018-07-17	公开/公告号	CN108291939A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/34 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/34 电机的测试〔3〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;3;4;;;G;0;1;R;3;1;/;2;8;;;G;0;1;R;2;3;/;1;6查看分类表>
申请人	法拉第未来公司	申请人地址	美国加利福尼亚州变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	法拉第未来公司	当前权利人	法拉第未来公司
发明人	梦薇·李·坎贝尔;党杰
代理机构	北京润平知识产权代理有限公司	代理人	陈潇潇;肖冰滨

摘要

本发明公开了用于估计和最小化内置磁体电机中的磁芯损耗的方法和装置。方法可以包括在计算机系统中创建，修改或接收有限元分析(FEA)模型以表示电动机的至少一部分，在所述FEA模型中在电动机的转子铁或定子铁内的第一位置处放置至少一个线圈，计算所述至少一个线圈的时域磁通密度B，将计算的磁通密度函数转换为频域谱，接收由所述频域谱指示的至少一些频率的材料磁芯损耗参数，以及通过材料磁芯损耗参数的加权组合来确定电动机的至少一部分的磁芯损耗。线圈可以由用户通过用户界面手动放置，或者可以自动放置。

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