具有双采样结构的正余弦信号幅值计算电路

发明专利有效专利

申请号：
CN202110553635.4
IPC分类号：G01B7/30
申请日期：
2021-05-20
申请人：
西安电子科技大学

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著录项信息

专利名称	具有双采样结构的正余弦信号幅值计算电路
申请号	CN202110553635.4	申请日期	2021-05-20
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-08-27	公开/公告号	CN113310396A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B7/30 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B7/00 以采用电或磁的方法为特征的计量设备 G01B7/30 用于计量角度或锥度；用于检测轴线准直	IPC分类号	G;0;1;B;7;/;3;0查看分类表>
申请人	西安电子科技大学	申请人地址	陕西省西安市太白南路2号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	西安电子科技大学	当前权利人	西安电子科技大学
发明人	袁冰;应晶;袁昕;查子健;霍艳丽
代理机构	陕西电子工业专利中心	代理人	田文英;王品华

摘要

本发明公开了一种具有双采样结构的正余弦信号幅值计算电路，包括采样单元、平方计算单元、求和计算单元。所述采样单元将输入的正余弦电压信号分别转换为正余弦电流信号，并通过采样消除运算放大器的输入失调。所述平方计算单元对正余弦电流信号分别进行平方运算后利用求和计算单元进行求和，最终输出与该信号幅值平方呈线性关系的电压信号。整个幅值计算过程中，各单元对同一及晶体管进行采样保持，消除器件的随机失配。本发明在提取正余弦信号幅值信息的前提下，解决了现有幅值计算电路中晶体管随机失配较大，运算放大器输入失调无法消除的问题。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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