防伪元件隐藏图像明暗区域对比度的检测方法与装置

发明专利无效专利

申请号：
CN201010514531.4
IPC分类号：G01M11/02;G01J3/42;G02B5/30
申请日期：
2010-10-21
申请人：
中国人民银行印制科学技术研究所;中国印钞造币总公司

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著录项信息

专利名称	防伪元件隐藏图像明暗区域对比度的检测方法与装置
申请号	CN201010514531.4	申请日期	2010-10-21
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2011-09-14	公开/公告号	CN102183357A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01M11/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01M 机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试 G01M11/00 光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件 G01M11/02 光学性质的测试	IPC分类号	G;0;1;M;1;1;/;0;2;;;G;0;1;J;3;/;4;2;;;G;0;2;B;5;/;3;0查看分类表>
申请人	中国人民银行印制科学技术研究所;中国印钞造币总公司	申请人地址	北京市丰台区科学城中核路5号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国人民银行印制科学技术研究所,中国印钞造币总公司	当前权利人	中国人民银行印制科学技术研究所,中国印钞造币总公司
发明人	王斌;陈庚;柯光明;周基炜;刘卫东
代理机构	中国国际贸易促进委员会专利商标事务所	代理人	孙宝海

摘要

本发明公开了一种防伪元件隐藏图像明暗区域对比度的检测方法与装置，其中，检测方法包括：入射光通过偏振片入射防伪元件上的测量区域；调整偏振片，使防伪元件的隐藏图像分别形成正片与负片，并测量正片与负片时测量区域的反射光谱，所述反射光谱表示入射光波段内各波长的反射率；根据正片与负片时的反射光谱，分别针对反射光谱中的各波长，获取正片与负片时反射率的差值或比值，以便由所述差值或比值确定所述防伪元件隐藏图像明暗区域的对比度。本发明实施例实现了防伪元件隐藏的正负片图像明暗区域的对比度的定量检测，从而实现了对防伪元件质量的精确、准确控制。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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