一种提高测试精度的电磁辐射敏感测试方法

发明专利有效专利

申请号：
CN200910080992.2
IPC分类号：G01R31/00
申请日期：
2009-03-31
申请人：
北京航空航天大学

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著录项信息

专利名称	一种提高测试精度的电磁辐射敏感测试方法
申请号	CN200910080992.2	申请日期	2009-03-31
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日	2009-09-02	公开/公告号	CN101520482
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;0查看分类表>
申请人	北京航空航天大学	申请人地址	北京市海淀区学院路37号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京航空航天大学	当前权利人	北京航空航天大学
发明人	戴飞;苏东林;高万峰;曹成
代理机构	北京永创新实专利事务所	代理人	周长琪

摘要

本发明公开了一种提高测试精度的电磁辐射敏感测试方法，包括用单个辐射天线从远场辐射，测量天线辐射功率、电场传感器场强值、天线与电场传感器距离；放置受试设备，布置多个电场传感器；记录此时电场传感器的值；将辐射天线靠近受试设备，是此时场强数值与上一步测量场强之差在0～6dB，记录此时电场传感器值；计算标准场强时辐射天线的功率；进行敏感测试这六个步骤，本发明给出测试标准规定的辐射场强Elim与辐射天线的辐射功率P之间所满足条件；用天线理论推算出受试设备内部耦合场达到测试需要时辐射天线功率和测试点测量场强值之间所满足的条件，给出量化的计算方法，提高电磁辐射敏感测试精度，使得测试结果准确，测试结果可以复现。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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