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使用了荧光粒子的检测对象物质的检测方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN201210363993.X
  • IPC分类号:G01N21/64
  • 申请日期:
    2012-09-26
  • 申请人:
    富士胶片株式会社
著录项信息
专利名称使用了荧光粒子的检测对象物质的检测方法
申请号CN201210363993.X申请日期2012-09-26
法律状态撤回申报国家暂无
公开/公告日2013-04-10公开/公告号CN103033492A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01N21/64IPC分类号G;0;1;N;2;1;/;6;4查看分类表>
申请人富士胶片株式会社申请人地址
日本东京 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人富士胶片株式会社当前权利人富士胶片株式会社
发明人渡边裕也;笠置典之
代理机构永新专利商标代理有限公司代理人白丽;陈建全
摘要
本发明提供一种待测物质的测定方法,其在利用了调整由温度导致的信号变化率的校正系统的免疫荧光分析中对照区的信号值与试验区的信号值的温度依赖性差异小,其包含(1)使待测物质和荧光粒子与存在于基板上的试验区及对照区接触并使荧光粒子与待测物质反应的工序;(2)除去未反应的荧光粒子的工序;(3)测定试验区及对照区的荧光粒子的荧光的工序;(4)使用对照区的荧光信号值校正试验区的荧光信号值的工序,其中荧光粒子为结合有(i)能够与待测物质结合的1种以上的第1结合物质和(ii)能够与第2结合物质结合但不与待测物质结合的第3结合物质的结合物质标记荧光粒子,在对照区上固定有相对于第1结合物质可结合的第2结合物质。

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