发光异常检测电路

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201420584424.2
IPC分类号：G01R31/44
申请日期：
2014-10-10
申请人：
日昌电子股份有限公司

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	发光异常检测电路
申请号	CN201420584424.2	申请日期	2014-10-10
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/44 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/38 （转入H01T 13/60） G01R31/44 采用核磁共振〔NMR〕（G01R33/24，G01R33/62优先）〔5〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;4;4查看分类表>
申请人	日昌电子股份有限公司	申请人地址	江苏省苏州市工业园区扬泰路9号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	虹光精密工业(苏州)有限公司	当前权利人	虹光精密工业(苏州)有限公司
发明人	吉田治信
代理机构	北京律诚同业知识产权代理有限公司	代理人	王玉双;祁建国

摘要

一种发光异常检测电路，用以快速检测具有庞大数量的发光元件的发光装置，异常检测电路包括电源模块、缓冲模块及异常检测模块。电源模块用以输出第一电源信号，缓冲模块包括多个缓冲器，各缓冲器之一缓冲输入端接收第一电源信号，缓冲输出端对应第一电源信号输出第二电源信号至发光元件中的其中之一，异常检测模块包括多个比较器，各比较器之二检测输入端分别对应耦接缓冲器的其中之一的缓冲输入端及缓冲输出端，以接收第一电源信号及第二电源信号，其检测输出端输出一比较信号，异常检测模块根据此些比较器之比较信号输出一检测结果。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供