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液晶面板的评价方法和评价装置

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN01139340.8
  • IPC分类号:G02F1/1335
  • 申请日期:
    2001-11-21
  • 申请人:
    精工爱普生株式会社
著录项信息
专利名称液晶面板的评价方法和评价装置
申请号CN01139340.8申请日期2001-11-21
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2002-06-19公开/公告号CN1354360
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G02F1/1335IPC分类号G;0;2;F;1;/;1;3;3;5查看分类表>
申请人精工爱普生株式会社申请人地址
日本东京都 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人精工爱普生株式会社当前权利人精工爱普生株式会社
发明人黑岩雅宏
代理机构中国专利代理(香港)有限公司代理人杨凯;叶恺东
摘要
本发明的课题是,提供可以比现有方法以更高的精度获得关于液晶层信息的一种新型的液晶面板评价方法和评价装置。使入射光学系统中的偏振片25具有与设定方向平行的偏振光偏振轴25t。光线在通过该偏振片25以后形成其振动面包含上述偏振光偏振轴25t方向的线偏振光Li,它以入射角θi入射到液晶面板10。与此相对照,上述检测光学系统被设定成用来检测以入射角θi入射的线偏振光Li中的镜面反射光。以与入射角θi大致相等的出射角θo从液晶面板10出射的镜面反射光入射到偏振片26,最后被导入上述光检测器29。偏振片26有一个偏振光吸收轴26a,它以光路为基准平行于偏振片25的偏振光偏振轴25t。

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