对被测设备进行测量的方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202110400305.1
IPC分类号：G01R31/28
申请日期：
2021-04-14
申请人：
罗德施瓦兹两合股份有限公司

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著录项信息

专利名称	对被测设备进行测量的方法
申请号	CN202110400305.1	申请日期	2021-04-14
法律状态	公开	申报国家	中国
公开/公告日	2021-11-19	公开/公告号	CN113671341A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;8查看分类表>
申请人	罗德施瓦兹两合股份有限公司	申请人地址	德国慕尼黑变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	罗德施瓦兹两合股份有限公司	当前权利人	罗德施瓦兹两合股份有限公司
发明人	贝努瓦·德拉;亚当·坦凯伦
代理机构	北京品源专利代理有限公司	代理人	谭营营;胡彬

摘要

本发明涉及一种通过使用天线阵列对被测设备进行测量的方法，包括提供包括多个天线元件的天线阵列，提供被配置为空中通信的测试设备，将被测设备定位在第一测试位置，在被测设备与天线阵列之间建立第一相对距离，当被测设备与天线阵列之间具有所述第一相对距离时，进行第一空中测量，从而得到第一测量结果，移动天线阵列和/或被测设备，在被测设备和天线阵列之间建立第二相对距离，以及当被测设备与天线阵列之间具有第二相对距离时，进行第二空中测量，从而得到第二测量结果，其中建立被测设备位于其中的静区，并且其中静区的尺寸是从第一测量结果和第二测量结果相关联的至少两个传递函数的组合得出的。此外，还描述一种测量系统。

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