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获取原子成像中的原子位置的方法与装置

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202011008851.2
  • IPC分类号:G06T7/00;G06T7/136;G06T7/70
  • 申请日期:
    2020-09-23
  • 申请人:
    中国科学院物理研究所
著录项信息
专利名称获取原子成像中的原子位置的方法与装置
申请号CN202011008851.2申请日期2020-09-23
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2020-12-22公开/公告号CN112116581A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G06T7/00IPC分类号G;0;6;T;7;/;0;0;;;G;0;6;T;7;/;1;3;6;;;G;0;6;T;7;/;7;0查看分类表>
申请人中国科学院物理研究所申请人地址
北京市海淀区中关村南三街8号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国科学院物理研究所当前权利人中国科学院物理研究所
发明人白雪冬;周鑫;陈潘;许智;廖磊
代理机构北京泛华伟业知识产权代理有限公司代理人暂无
摘要
本发明提供了一种透射电镜图像分析方法,包括输入步骤,其接收材料的具有图像像素值的原始图像;亮原子位形粗提取步骤,其依据图像像素值,获得原始图像中的亮斑的轮廓数据;亮原子位形精细计算步骤,其依据轮廓数据提取原始图像中包含有亮斑的区域的像素值,拟合获得亮原子中心点精确位置;其他原子位形精细计算步骤,其依据多个相邻的亮原子的中心位置以及材料的晶格种类,获得其他原子的中心位置;以及输出步骤以输出原始图像中的原子排布信息。

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