测试EEPROM的电路及其测试方法

发明专利无效专利

申请号：
CN03128966.5
IPC分类号：--
申请日期：
2003-05-30
申请人：
上海华园微电子技术有限公司

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法律信息

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著录项信息

专利名称	测试EEPROM的电路及其测试方法
申请号	CN03128966.5	申请日期	2003-05-30
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2004-12-08	公开/公告号	CN1553327
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	暂无	IPC分类号	暂无查看分类表>
申请人	上海华园微电子技术有限公司	申请人地址	上海市宜山路900号A区六楼变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海华园微电子技术有限公司	当前权利人	上海华园微电子技术有限公司
发明人	王立辉;陈桂岭;印义言
代理机构	上海开祺专利代理有限公司	代理人	李兰英

摘要

本发明涉及一种测试EEPROM的电路及其测试方法，本发明的电路包括EEPROM(1)，微控制器(2)，显示驱动器(3)，数码显示器(4)；所述的微控制器(2)与EEPROM(1)双向连接，显示驱动器(3)在微控制器(2)控制下驱动所述的数码显示器(4)，数码显示器(4)将老化结果显示或者错误代码输出；本发明的有益效果是：通过测试并检测EEPROM真正的擦写寿命，保证了IC卡的安全使用。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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