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一种薄膜表面平整度检测装置

实用新型专利有效专利
  • 申请号:
    CN201920327540.9
  • IPC分类号:G01B11/30
  • 申请日期:
    2019-03-15
  • 申请人:
    广州佳实顺新材料科技有限公司
著录项信息
专利名称一种薄膜表面平整度检测装置
申请号CN201920327540.9申请日期2019-03-15
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01B11/30IPC分类号G;0;1;B;1;1;/;3;0查看分类表>
申请人广州佳实顺新材料科技有限公司申请人地址
广东省广州市花都区花东镇花都大道东570号自编2区(570号之2) 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人广州佳实顺新材料科技有限公司当前权利人广州佳实顺新材料科技有限公司
发明人黄天癸;胡竹林
代理机构广州市深研专利事务所代理人张喜安
摘要
一种薄膜表面平整度检测装置,涉及薄膜检测设备的技术领域,其包括两组检测机构、两组连接架、红外发射头以及红外接收头,所述检测机构包括机架、导向辊、压膜机构以及放料机构,所述放料机构包括连接板、转轴、定位板、定位槽、定位块以及放料辊,所述放料辊连接于连接板的一端,连接板的另一端转动连接于转轴上,转轴连接于定位板的中部;该薄膜表面平整度检测装置能够通过放料机构上的放料辊的位置,进而调节薄膜的张紧度,同时在多个压膜机构的作用,对薄膜进行铺平,使薄膜在检测过程中不会出现褶皱或者撕裂,致使薄膜表面平整度检测更加精准。

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