一种基于波导耦合表面等离子共振的降低背景影响的检测方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201110093408.4
IPC分类号：G01N21/55
申请日期：
2011-04-14
申请人：
北京航空航天大学

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法律信息

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著录项信息

专利名称	一种基于波导耦合表面等离子共振的降低背景影响的检测方法
申请号	CN201110093408.4	申请日期	2011-04-14
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2011-11-30	公开/公告号	CN102262073A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/55 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/17 入射光根据所测试的材料性质而改变的系统（其中所测试的材料因受到光学激发而引起入射光波长改变的入G01N 21/63）〔3〕 G01N21/55 镜面反射率〔3，2014.01〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;5;5查看分类表>
申请人	北京航空航天大学	申请人地址	北京市海淀区学院路37号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京航空航天大学	当前权利人	北京航空航天大学
发明人	郑铮;万育航;李魏;鹿智婷;朱劲松
代理机构	北京聿宏知识产权代理有限公司	代理人	吴大建;刘华联

摘要

本发明公开了一种基于波导耦合表面等离子共振的降低背景影响的检测方法。根据波导耦合表面等离子共振传感器响应的反射光强度曲线中，波导耦合表面等离子共振峰与波导耦合共振峰对于包括标签层和背景层在内的外界物质变化的灵敏度不相同的原理，选择波导耦合表面等离子共振峰和与其相邻的灵敏度较大的一个波导耦合共振峰，建立两个分别对应两个峰的位置偏移量与待测样品变化的方程。通过解该二元一次方程组，分别求得标签层和背景层的变化量，起到了降低背景层干扰的作用。本发明不需要添加参考通道，能够在简单的结构下对待测样品进行精确检测，减少了待测样品背景层的干扰，增加了检测系统的精度和可靠性，有利于实现高通量检测。

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