双频激光干涉仪测量速度的自由落体测量装置

发明专利无效专利

申请号：
CN200410053304.0
IPC分类号：G01B9/02;G01P3/36;G01S17/58
申请日期：
2004-07-30
申请人：
中国科学院上海光学精密机械研究所

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著录项信息

专利名称	双频激光干涉仪测量速度的自由落体测量装置
申请号	CN200410053304.0	申请日期	2004-07-30
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2005-03-02	公开/公告号	CN1587949
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B9/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B9/00 组中所列的及以采用光学测量方法为其特征的仪器（用于测量特定的参量的装置入G01B 11/00）〔2〕 G01B9/02 干涉仪	IPC分类号	G;0;1;B;9;/;0;2;;;G;0;1;P;3;/;3;6;;;G;0;1;S;1;7;/;5;8查看分类表>
申请人	中国科学院上海光学精密机械研究所	申请人地址	上海市800－211邮政信箱变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院上海光学精密机械研究所	当前权利人	中国科学院上海光学精密机械研究所
发明人	程兆谷;高海军
代理机构	上海新天专利代理有限公司	代理人	张泽纯

摘要

一种双频激光干涉仪测量速度的自由落体测量装置，包括一双频激光器，在该激光器的输出光路上设置一偏振分光镜，该偏振分光镜的分光面与激光器的输出光路成45°，在该偏振分光镜透射光方向是一固定角锥棱镜，反射光方向是一移动角锥棱镜，在该偏振分光镜的输出光方向、双频激光器的同侧还有一探测器，其特征在于所述的移动角锥棱镜通过其镜座固定在一滑块上，该滑块设置在导轨上，该导轨安装在导轨底座上并与重力方向严格一致。本发明装置对双频激光干涉仪测量速度测量具有较好的准确性、测量速度范围大、测量装置简单、方法简便和经济等一系列优点。

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