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光子计数CT装置以及估计受辐射量计算方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201580047513.0
  • IPC分类号:A61B6/03
  • 申请日期:
    2015-08-06
  • 申请人:
    株式会社日立制作所
著录项信息
专利名称光子计数CT装置以及估计受辐射量计算方法
申请号CN201580047513.0申请日期2015-08-06
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2017-05-10公开/公告号CN106659457A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号A61B6/03IPC分类号A;6;1;B;6;/;0;3查看分类表>
申请人株式会社日立制作所申请人地址
日本东京都 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人株式会社日立制作所当前权利人株式会社日立制作所
发明人小岛进一;山川惠介
代理机构中科专利商标代理有限责任公司代理人刘慧群
摘要
本发明提供一种光子计数CT装置以及估计受辐射量计算方法。在光子计数CT装置中,与被照射的X射线的能谱形状无关,以简易的构成来高精度地估计被摄体的受辐射量。预先获得每个给定的能量范围的给定的强度的X射线所引起的受辐射量,并作为能带单位受辐射量数据来保持。若设定了拍摄条件,则根据设定的拍摄条件来照射,作为在无被摄体的状态下入射到检测器的X射线的能谱,获得每个能量范围的入射X射线的光子数(强度)。按照每个能量范围,将入射X射线的强度与能带单位受辐射量数据相乘,并将该结果关于整个能量范围来求和。由此来估计根据设定的拍摄条件而照射的照射X射线所引起的受辐射量。

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