一种非接触智能卡芯片的测试装置

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201220460047.2
IPC分类号：G01R31/28
申请日期：
2012-09-10
申请人：
大唐微电子技术有限公司

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著录项信息

专利名称	一种非接触智能卡芯片的测试装置
申请号	CN201220460047.2	申请日期	2012-09-10
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;8查看分类表>
申请人	大唐微电子技术有限公司	申请人地址	北京市海淀区永嘉北路6号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	大唐微电子技术有限公司	当前权利人	大唐微电子技术有限公司
发明人	熊伟
代理机构	北京安信方达知识产权代理有限公司	代理人	栗若木;曲鹏

摘要

一种非接触智能卡芯片的测试装置，涉及非接触式智能卡芯片测试领域，解决了现有技术对测试仪的硬件资源有较高要求，测试系统成本较高的问题。所述测试装置包括数字逻辑控制单元、信号调理单元和射频单元，数字逻辑控制单元对计算机传送的功能指令进行解析获得测试向量参数和命令信息，并对所述命令信息进行编码，并发送至信号调理单元；信号调理单元根据测试向量参数产生两路电压信号；并根据命令信息对两路电压信号进行调制为射频单元提供供电电压，射频单元向待测芯片发送加载信号Vpp，并接收待测芯片返回数据并进行解调，将解调后的数据发送至数字逻辑控制单元。本实用新型可以不依靠测试仪满足测试的需求，极大降低了整个测试系统的成本。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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