测试装置及测试方法

发明专利无效专利

申请号：
CN200810304206.8
IPC分类号：G01R27/02
申请日期：
2008-08-26
申请人：
鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	测试装置及测试方法
申请号	CN200810304206.8	申请日期	2008-08-26
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2010-03-03	公开/公告号	CN101661060
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R27/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R27/00 测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置 G01R27/02 电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性，例如时间常数的实值或复值测量（仅仅通过测量相位角的入G01R 25/00）	IPC分类号	G;0;1;R;2;7;/;0;2查看分类表>
申请人	鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司	申请人地址	广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	鸿富锦精密工业（深圳）有限公司,鸿海精密工业股份有限公司	当前权利人	鸿富锦精密工业（深圳）有限公司,鸿海精密工业股份有限公司
发明人	王仲培
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明提供一种测试装置，用于测试元件的防电磁干扰涂层的电阻，所述测试装置包括承载基板与电阻计，所述承载基板具有阳极测试接点、多个收容孔以及阴极测试接点，所述多个收容孔用于收容多个待测试元件，所述阴极测试接点与阳极测试接点相对，所述阳极测试接点、多个收容孔以及阴极测试接点之间通过导电介质依次连接，所述电阻计与所述阳极测试接点和阴极测试接点电连接，用于获得阳极测试接点与阴极测试接点之间的电阻。本发明还提供一种利用该测试装置的测试方法。

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