光学系统光轴与其安装基面垂直度的检测方法

发明专利无效专利

申请号：
CN200510016792.2
IPC分类号：G01M11/00G01M11/02G01B11/27
申请日期：
2005-05-18
申请人：
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

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法律信息

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著录项信息

专利名称	光学系统光轴与其安装基面垂直度的检测方法
申请号	CN200510016792.2	申请日期	2005-05-18
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2006-11-22	公开/公告号	CN1865889
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01M11/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01M 机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试 G01M11/00 光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件	IPC分类号	G01M11/00;G01M11/02;G01B11/27查看分类表>
申请人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	申请人地址	吉林省长春市东南湖大路*** 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	当前权利人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
发明人	叶露;刘则洵;韩冰
代理机构	长春菁华专利商标代理事务所	代理人	南小平

摘要

一种属于光学仪器检测技术领域的光学系统光轴与其安装基面垂直度的检测方法：将被测光学系统置于调平台上的精密转台上，其上方架设一台平行光管，通过转动精密转台和调整调平台使平行光管与精密转台轴线相平行；精密转台上平面反射镜的上方架设自准直仪，使自准直仪与平面反射镜自准成像，记录自准直仪的方位角度；调整调平台至电十字丝的像与平行光管十字丝的像重合，读取自准直仪的方位角度；计算被测光学系统光轴与安装基面不垂直度误差。本发明可广泛应用于航天、航空光学系统光轴与其安装基面垂直度的检验。

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发明授权

光学系统光轴与其安装基面垂直度的检测方法

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