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光学系统光轴与其安装基面垂直度的检测方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200510016792.2
  • IPC分类号:G01M11/00;G01M11/02;G01B11/27
  • 申请日期:
    2005-05-18
  • 申请人:
    中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
著录项信息
专利名称光学系统光轴与其安装基面垂直度的检测方法
申请号CN200510016792.2申请日期2005-05-18
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2006-11-22公开/公告号CN1865889
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01M11/00IPC分类号G;0;1;M;1;1;/;0;0;;;G;0;1;M;1;1;/;0;2;;;G;0;1;B;1;1;/;2;7查看分类表>
申请人中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请人地址
吉林省长春市东南湖大路16号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国科学院长春光学精密机械与物理研究所当前权利人中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
发明人叶露;刘则洵;韩冰
代理机构长春菁华专利商标代理事务所代理人南小平
摘要
一种属于光学仪器检测技术领域的光学系统光轴与其安装基面垂直度的检测方法:将被测光学系统置于调平台上的精密转台上,其上方架设一台平行光管,通过转动精密转台和调整调平台使平行光管与精密转台轴线相平行;精密转台上平面反射镜的上方架设自准直仪,使自准直仪与平面反射镜自准成像,记录自准直仪的方位角度;调整调平台至电十字丝的像与平行光管十字丝的像重合,读取自准直仪的方位角度;计算被测光学系统光轴与安装基面不垂直度误差。本发明可广泛应用于航天、航空光学系统光轴与其安装基面垂直度的检验。

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