一种XRF熔融制备玻璃片样品的方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201510743697.6
IPC分类号：G01N1/44
申请日期：
2015-11-05
申请人：
武汉科技大学

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专利名称	一种XRF熔融制备玻璃片样品的方法
申请号	CN201510743697.6	申请日期	2015-11-05
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日	2015-12-30	公开/公告号	CN105203384A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N1/44 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N1/00 取样；制备测试用的样品（用于自动分析的材料处理入G01N 35/00） G01N1/28 测试用样品的制备（将样品安装在显微镜载片上入G02B 21/34；电子显微镜中支承被分析的物品或材料的装置入H01J 37/20） G01N1/44 包括辐照的样品处理，例如，加热〔6〕	IPC分类号	G;0;1;N;1;/;4;4查看分类表>
申请人	武汉科技大学	申请人地址	湖北省武汉市青山区和平大道1244号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	武汉市安科睿特科技有限公司	当前权利人	武汉市安科睿特科技有限公司
发明人	徐建平;周双清
代理机构	武汉科皓知识产权代理事务所（特殊普通合伙）	代理人	张火春

摘要

本发明涉及一种XRF熔融制备玻璃片样品的方法。其技术方案是：将四硼酸锂粉末制成与铂金坩埚(1)底部形状相同的垫片式容器(2)，称量，记作m4克，放入铂金坩埚(1)中。按预先确定待制备的玻璃样品的质量、助溶剂的质量、氧化剂的质量和试料的质量，称量，依次记作M、m1、m2和m3，再称量熔剂的质量m5=M‑m1‑m2‑m3‑m4；然后将所称取的助溶剂、氧化剂、试料和熔剂混匀，置入垫片式容器(2)中。将放有垫片式容器(2)的铂金坩埚(1)移入熔融炉中，升温至750~900℃，保温5~15分钟，再升温至1050~1150℃，保温5~20分钟。取出摇动混匀熔体，铸模、脱模后，得到玻璃片样品。本发明具有操作方便、高温作业时间短、制片效率高、能耗低和成本低的特点。

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