一种环件自动化超声相控阵无损检测方法及装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201710950744.3
IPC分类号：G01N29/265;G01N29/04
申请日期：
2017-10-13
申请人：
武汉理工大学

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种环件自动化超声相控阵无损检测方法及装置
申请号	CN201710950744.3	申请日期	2017-10-13
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2018-03-20	公开/公告号	CN107817299A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N29/265 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N29/20 （转入G01N 29/032，G01N 29/11） G01N29/22 零部件〔5〕 G01N29/26 用于定位或扫描的结构〔5〕 G01N29/265 通过相对于固定物体移动传感器〔8〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;9;/;2;6;5;;;G;0;1;N;2;9;/;0;4查看分类表>
申请人	武汉理工大学	申请人地址	湖北省武汉市洪山区珞狮路122号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	武汉理工大学	当前权利人	武汉理工大学
发明人	华林;王彬;汪小凯;钱东升;何溪明;张勇
代理机构	湖北武汉永嘉专利代理有限公司	代理人	唐万荣;王淳景

摘要

本发明公开了一种环件自动化超声相控阵无损检测方法及装置，该方法包括以下步骤：S1、将环件和超声相控阵探头均置于收集槽内，探头与环件外圆面之间设有一定提离距离；S2、检测环件近外圆面的内部缺陷：设置探头的聚焦深度为环件壁厚δ的一半，开始检测，环件绕其轴线每间隔一定时间Δt旋转一定角度α，每次旋转后重复检测，直至环件旋转一圈为止，然后超声相控阵探头沿环件轴向向下移动距离Δz，重复检测，直到超声相控阵探头移动到环件底部边缘为止；S3、检测环件近内孔面的内部缺陷：设置超声相控阵探头的聚焦深度为环件壁厚δ，其余同步骤S2，即完成环件的超声信号采集和记录。本发明能有效地检测出环件内部各个方向上的缺陷。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供