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专利名称 | 一种交直流电流比较仪 |
申请号 | CN92103969.7 | 申请日期 | 1992-05-21 |
法律状态 | 权利终止 | 申报国家 | 中国 |
公开/公告日 | 1993-12-01 | 公开/公告号 | CN1079053 |
优先权 | 暂无 | 优先权号 | 暂无 |
主分类号 | 暂无 | IPC分类号 | 暂无查看分类表>
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申请人 | 华中理工大学 | 申请人地址 | 湖北省武汉市武昌珞喻路151号
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权利人 | 华中理工大学 | 当前权利人 | 华中理工大学 |
发明人 | 任士焱 |
代理机构 | 华中理工大学专利事务所 | 代理人 | 骆如碧 |
摘要
本发明属电流测试装置,它是一种比较仪,由测量头和电子放大器两部分组成,测量头为环形开口状,由上下两半环构成,在直径方向设哈夫面A和B。电子放大器中的二次交流电流的互感直接耦合电路由二次绕组,负载电阻,电解电容和二极管构成。本装既可测直流电流和交流电流,也可同时测交直流电流,现场测试装拆极为方便,避免被测母线的停电、装拆和被检互感器装拆。
1、一种交直流电流比较仪,由测量头和电子放大器两部分构成,其特征为所述测量头为环形开口状,由上、下两半环构成,在直径方向设哈夫面A和B,测量头由以下几部分构成:
a)交流主铁芯T2由硅钢片卷绕成环状形铁芯后,在外面绕上交流检测绕组WD,再在该绕组外面绕监视绕组WK,在监视绕组WK外面绕交流调零绕组Wa;
b)两个直流主铁芯T3由硅钢片卷成环状形铁芯后,分别在外面绕上激磁绕组Wa;
c)将a)、b)所述绕组拼装,在它们外面绕上静电屏蔽层E并将它置于由硅钢片卷绕而成的磁屏蔽铁芯T1中,在T1外面绕上交直流二次绕组Wa,最外面套上静电屏蔽层F;
d)上述结构经环氧树脂浇铸后,在直径方向开哈夫面A和B,
所述电子放大器中的二次交流电流I5a的互感直接耦合电路由二次绕组Wa,负载电阻B、电解电容C1、C2、二极管D1、D2构成,其中D1的阳极与D2的阴极相连,接到Wa的非同名端和直流功率放大器A的输出端,D1的阴极与C1的正极相连,D2的阳极与C2的负极相连,C1的负极与C2的正极相连后与负载B和放大器A的接地点连接,负载B的另一端接到Wa的同名端。
本发明属电流测试装置,特别适合于交直流混合使用场合。\n“电子工程师学会学报,电子与动力”(Electronics and Power The Journal of the Institution of Electrical Engineers Vol.32 No.1 January 1977.)载文“用互感器精确测量直流和交流电流”(Accurate Measurement of d.c.and a.c.by Transformer)的装置和电路。这种比较仪虽然很吸引人,但至少存在如下两个缺点:(一)该比较仪的测量头是一种闭环式结构,被测线必须从闭环中心穿过,这对工业现场测试是非常不方便的。测量头所使用的材料为高导磁率薄膜合金,价格昂贵。对电磁、机械冲击的承受能力差。(二)电子放大器电路存在明显的缺点是:对于大的过电流,这种功率放大器不可能送出相应的补偿电流,在这种情况下,由于铁芯饱和,磁势平衡受到破坏,否则,要求功率放大器做得很大,这是不经济的。\n根据上述现有技术存在的缺点,本发明提供一种开口式的交/直流电流比较仪。\n为完成上述目的,本发明采取以下技术措施,图1为开口式交/直流电流比较仪测量头外形图,图2为测量头哈夫面A剖视图,图3为本发明比较仪电路图。这种交直流电流比较仪由测量头和电子放大器两部分构成,所述测量头为环形开口状,由上、下两半环构成,在直径方向设哈夫面A和B。测量头中的交流主铁芯T2由硅钢片卷绕成环状形铁芯后,在外面绕上交流检测绕组WD,再在该绕组外面绕上监视绕级WK,在Wk外面绕交流调零绕组Wa两个直流主铁芯T3由硅钢片卷成环状形铁芯后,分别在外面绕上激磁绕组Wa。然后,将上述交流、直流绕组铁芯拼装,在它们外面绕上静电屏蔽E,并将它置于由硅钢片卷绕而成的磁屏蔽铁芯T1中,在T1外面绕上交直流二次绕组Ws,最外面套上静电屏蔽F、上述结构经环氧树脂浇铸后,在直径方向开哈夫面A和B。所述电子放大器中的二次交流电流Isa的互感直接耦合电路为,二次绕组Ws中的绝大部分(99%左右)交流电流(Isa-IM)由互感直接耦合电路产生,该互感耦合电路由二次绕组Ws、负载电阻B、电解电容C1、C2、二极管D1、D2构成,其中D1的阳极与D2的阴极相连,接到Ws的非同名端和直流功率放大器A的输出端,D1的阴极与C1的正极相联,D2的阳极与C2的负极相连,C1的负极与C2的正极相连后与负载B和放大器的接地点连接,负载B的另一端接到Ws的同名端。图3给出了开口式交直流电流比较仪的电气原理图,当被测一次绕组Wp中通过交流和直流电流Ipa+Ipd时,对交流分量Ipa,基于交流磁势平衡原理,二次绕组Ws中会感应出二次交流电流I′sa,由于这种二次电流Isa中存在着一定数量的磁化电流误差,即在主铁芯T2中作用有一定数量的交流安匝差IpaWp-IsaWs,该安匝差将在交流检测绕组WD中感应信号,WD取得的信号通过电子放大器放大、反馈,得到补偿二次交流电流的磁化电流IM,使得在主铁芯T2中的安匝差IpaWp-IsaWs接近于零,从而得到二次电流与一次电流之间的高精度匝 比关系,Ipa= (Ws)/(We) Isa,外接负载B中流过准确度很高的二次交流电流Isa,通过Isa即可确定Ipa。为了保证该系统高精度、高可靠地工作,设置了交流调零绕组Wa和交流监视绕组Wk。Wa与秘电势源e和电阻R、电容C的并联支路相串联,合理选择R、C的值,可以得到最佳交流调零效果,从而有效抑制由于直流系统纹波对交流系统零点的影响。交流监视绕组Wk与监视装置K相连一旦电子部分或其他部分发生故障,其二次电流的准确度就发生变化,主铁芯T2中和交流磁势就不可能趋近于零,此时监视绕组则有一个比较大的信号输出,从而构成这种开口式交流电流比较仪的自诊断功能。由图3可知,对于一次绕组Wp中的直流分量Ipd,采用磁调制原理进行测试。均匀绕制在一对直流主铁芯T3上的一对激励绕组Ws对接后接入交流工频变压器T4,经过配对的一对T3将受到工频交流磁场的作用。当一次绕组中存在被测直流分量Ipd时,在直流主铁芯T3中将作用有对应的直流磁场,该直流磁场将受到交流磁场的调制。由激磁变压器的中心抽头M将输出以二次谐波为主的交流信号,该信号的幅值与相位对应被测直流Ipd的大小和方向,经过电子部件组成的滤波、解调、放大环节A,给二次绕组Ws提供反馈直流电流Isd,由于系统开环增益很高,当闭环系统平衡时,使得直流一次与二次之间的安匝差趋近于零,即IpdWp-IsdWs=0,得Ipd= (Ws)/(Wp) Isd,从而在负载B中亦可得到匝比准确度很高的二次直流电流Isd。\n图1开口式交流电流比较仪测量头外形图。\n图2测量头哈夫面A剖视图。\n图3开口式交直流电流比较仪电路图。\n本发明具有以下多方面优点:(一)测量头铁芯均用低成本的普通硅钢片材料代替成本高过10倍以上的薄膜合金高导磁材料,不仅整机成本低,制造方便,并能承受强烈的机械、电磁冲击,便于工业上推广使用。(二)测量头为上、下两半环组成的开口式结构,现场测试装拆极为方便,避免被测母线的停电、装拆和被检互感器的装拆。(三)本发明突破了交流二次电流靠放大器提供,从而带来要求功率放大器功率足够大、可靠性差、成本高等一系列问题。(四)本装置既可测量直流电流,也可测量交流电流,还可同时测量交直流电流。(五)该比较仪设置有运行状态自诊断功能。\n经测试,开口式交/直流比较仪如交、直流额定电流为4000A,在交流、直流以不同组合的安匝数同时输入一次绕组Wp中,测其交流误差在1%的额定电流(40A)到100%额定电流(4000A)宽范围内,其相对误差(包括同相分量和正交分量)均不超过0.005%(即50PPm),试验数据如表1所示为交流误差数据表,单位ppm。(表1见文后)\n表1\n交流 交流电流\n交流误差 40安匝 400安匝 1000安匝 2000安匝 3000安匝 4000安匝\n直流\n安匝 同相 正交 同相 正交 同相 正交 同相 正交 同相 正交 同相\n0 +18 +13 +16 +15 +13 +8 +7 +8 +6 +4 +5 +3\n40 +18 +13 +16 +15 +13 +8 +7 +8 +6 +4 +5 +3\n400 +20 +14 +15 +16 +13 +8 +7 +8 +5 +4 +5 +3\n1000 +20 +13 +14 +17 +13 +8 +6 +9 +5 +4 -\n2000 +12 +20 +12 +20 +12 +9 +5 +10 +4 +5 -\n3000 +14 +20 +11 +20 +11 +9 +5 +11 - -\n4000 +14 +20 +11 +21 - - - -
法律信息
- 1996-07-03
- 1995-08-09
- 1993-12-01
- 1992-10-21
实质审查请求已生效的专利申请
实质审查请求已生效的专利申请
引用专利(该专利引用了哪些专利)
序号 | 公开(公告)号 | 公开(公告)日 | 申请日 | 专利名称 | 申请人 | 该专利没有引用任何外部专利数据! |
被引用专利(该专利被哪些专利引用)
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