基坑围护结构分层水平位移的测量装置及测量方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201310261855.5
IPC分类号：G01B11/02
申请日期：
2013-06-26
申请人：
同济大学;上海同舰建筑科技有限公司

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	基坑围护结构分层水平位移的测量装置及测量方法
申请号	CN201310261855.5	申请日期	2013-06-26
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2013-10-23	公开/公告号	CN103363904A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/02 用于计量长度、宽度或厚度（G01B 11/08优先）	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;0;2查看分类表>
申请人	同济大学;上海同舰建筑科技有限公司	申请人地址	上海市杨浦区四平路1239号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	同济大学,上海同舰建筑科技有限公司	当前权利人	同济大学,上海同舰建筑科技有限公司
发明人	夏才初;张平阳;曾格华
代理机构	上海光华专利事务所	代理人	雷绍宁

摘要

本发明提供一种基坑围护结构分层水平位移的测量装置和测量方法，该测量装置包括一个相对位移测量装置和一个绝对位移测量装置，相对位移测量装置包括固定安装在第一围护结构侧面上的第一定线装置、安装在第一定线装置上的第一激光测距传感器和安装在第二围护结构上的位移反光片。绝对位移测量装置包括固定安装在第一围护结构顶面上的第二定线装置、安装在第二定线装置上的第二激光测距传感器和一个基坑外的基准反光片。第一、第二定线装置均包括一内设有球窝的基座球窝与一球头转子球面配合，球头转子与第一、第二激光测距传感器固定连接，球窝与球头转子间设有锁紧装置。测量装置结构简单、测量过程简便快捷、测量方法测量精度高。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供