一种多频率分量的幅值提取方法及其系统

发明专利有效专利

申请号：
CN202010934297.4
IPC分类号：G01J4/04
申请日期：
2020-09-08
申请人：
合肥工业大学;中国科学院合肥物质科学研究院

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专利名称	一种多频率分量的幅值提取方法及其系统
申请号	CN202010934297.4	申请日期	2020-09-08
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2020-12-11	公开/公告号	CN112067130A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J4/04 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J4/00 测量光的偏振〔2〕 G01J4/04 用电检测方法的偏振计（G01J 4/02优先）〔2〕	IPC分类号	G;0;1;J;4;/;0;4查看分类表>
申请人	合肥工业大学;中国科学院合肥物质科学研究院	申请人地址	安徽省合肥市包河区屯溪路193号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	合肥工业大学,中国科学院合肥物质科学研究院	当前权利人	合肥工业大学,中国科学院合肥物质科学研究院
发明人	杨星河;刘冬梅;符佳;吕波;刘良成
代理机构	安徽省合肥新安专利代理有限责任公司	代理人	陆丽莉;何梅生

摘要

本发明公开了一种多频率分量的幅值提取方法及其系统，该方法能同时提取分析待测信号中的多个频率分量的幅值，同时提取两个不同频率f0和f1分量的幅值时：对采样后的待测信号进行快速傅里叶变换以获取信号频谱，通过频谱分离同步提取两个频率的局部频谱。对局部频谱进行快速傅立叶逆变换，得到频率f0对应的余弦序列Xcos(n)0和正弦序列Xsin(n)0以及频率f1对应的余弦序列Xcos(n)1和正弦序列Xsin(n)1。对余弦序列Xcos(n)0的平方和正弦序列Xsin(n)0的平方进行求和处理后再求开方，得到频率f0对应分量的幅值同理得到，频率f1对应分量的幅值本发明能够准确实时的提取待测信号中不同频率分量幅值，从而可以计算得到幅值的相关量信息。

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该专利没有引用任何外部专利数据！

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